Сразу отвечаю на 2 самых популярных вопроса: 1. Как заказать на LCSC в Россию, Беларусь, Украину? - Я не знаю 2. Как и где купить Flipper Zero? - Я не знаю Думаю, что в обоих случаях гугл поможет

Классно что есть такие люди кто готов проводить такие долгие серьёзные тесты 👍

EEPROM умереть не может: он всегда будет жить в наших сердцах!

Где-то встречал статью про ремонт магнитолки - систематически дохли ЕЕПРомки. При анализе причины выяснилось, что заводская прошивка записывает уровень громкости при каждом шаге энкодера. В итоге за год-два ресурс памяти вырабатывался полностью

Вот это реально полезные тесты, ребята давайте накидайте пальцев под видео, человек 2 месяца потратил на это. Заслуживает уважения, ещё раз спасибо.

Руслан, твой подход к тестам - это нечто! Очень благодарен за это видео!

На самом деле память тестируют шахматкой, записывая 0х55, и 0хАА. Это позволяет создать наихудшие условия, в том числе повышает ликедж между ячейками, потому что ноль возле единицы и наоборот

Было бы неплохо еще и посмотреть реальную зависимость ресурса EEPROM от температуры эксплуатации

Очень большая работа! Спасибо!

Спасибо за интересный тест!

Спасибо за проделанную работу. Очень интересно.

Спасибо, познавательно! Отлично проведённые тесты.

Спасибо. Очень интересно и качественно сделан тест.

Спасибо за работу.

Отличный тест, с нетерпением жду такой же для SPI NOR-flash в SO8.

Спасибо! Реально очень полезное видео, также, как и с ресурсным тестом OLED экранов!

как всегда ваши тесты огонь!)

Огромное спасибо за такие тесты - С меня Like и подписка. Побольше бы таких тестов.

Классное видео. Очень интересное и полезное исследование. Спасибо!

Спасибо. Полезно.

Спасибо за ролик, интересно.

Интересный тест ) Но проблема еще в том, что у поюзаных ячеек сильно портится retention, заряд начинает утекать в покое. Т.е. записав весь объем 2млн раз, и положив чип в печку на +85° на месяц - ошибки будут на порядок раньше. И видимо часть микросхем даже не выжмет паспортный миллион.

Мега качественное видео, спасибо!

Спасибо. Интересное видео, интересный подход... Удачи Вам...

Круто! полезное видео. Всегда, при написании программ, проверяю чтобы eeprom записывалась при конкретном событии, а не в каждом цикле программы.

Великолепное видео! Большое спасибо, что поделились такой ценной информацией!

Практически ничего не понимаю в этом. Смотрел с перемотками. Но было интересно. В принципе, как я понял никакой воды. Возможно, и дальше буду смотреть ваши ролики. Оформление и подача материала очень и очень хороши. Благодарю.

О, помню ОЛЕД экранчики жгли, теперь ЕЕПРОМки.. Интересные и длительные тесты!

Очень интересно 🤝

Отличная работа! Действительно эксклюзивная работа проведена и оформлен контент очень качественно! По больше бы такого материала в интернете как ваш. Так держать!

Большая работа, интересно было посмотреть

Вот почему на 20летних авто системы IMMO сбоить начинают(слёт синхры, ключей..).. А сейчас повально все автопроизводителе начали размещять ECU в подкапотном пространстве. Значит ресурс будет ещё меньше с учётом повышеной температуры. И наверно количество циклов монтаж-демонтаж тоже здоровья еепромкам не добавляют...

Спасибо большое за видео!!!

Да, было интересно. Для ускорения теста стоило подключать несколько микросхем одновременно.

Отлично! Спасибо за полезное видео! Ещё было бы наглядно сделать график цена/кол-во записей - посмотреть оптимальные варианты

классные у вас видео! спасибо

👍 серьёзный тест!

Мало кто слышал про FRAM, та, что "ферритовая". Она по ногам совместима с еепром 24й серии, только вечная. ОВЕН в свои старшие модели контроллеров её уже серийно применяет.

Хорошая работа, нужная. Лайк однозначно.

Очень познавательно. Неоднократно видел проблемные микросхемы памяти в очень дорогих устройствах, например профессиональные фотоаппараты, муз оборудование. Я всегда очень злился, почему завод не тестировал микросхемы ОЗУ и ПЗУ циклами записи-чтения (это же так просто сделать служебную функцию в прошивке и простейший мемтест+ стресс-тест процессора минут на 40-час? чтобы все шары Bga прогрелись и если где-то отходит контакт-он бы проявился) перед установкой в устройство и продажи его за несколько тысяч долларов! Иногда была ошибка в ПО, например при записи нового трека прошивка не понимала что пустое место закончилось и записывала поверх служебных данных. Но это уже не относится к проблеме самих чипов, хотя н-р более грамотная архитектура могла бы разделить микросхему для основной прошивки и для данных и сделать их с планарными выводами для простой замены паяльным феном. и н-р сделать отдельный чип с калибровками, чтобы его можно было просто перенести на донорскую плату в случае гибели основной и не мучится. очень часто встречалась битая оперативная память, распаянная в устройствах, причём подлость такой проблемы что проявляется она часто редкими глюками через определенное время или при вызове определенных функций (например загрузке новых данных или выборе каких-то режимов, где заполняется буфер), а при попытке прошить такое устройство из-за ошибок в контрольных суммах в ОЗУ повреждается и ПЗУ и настоящая боль не только найти распиновку JTAG но и слить-собрать рабочий дамп, особенно если всё на BGA пайке. Решениеv станет проверка контрольных сумм после полной распаковки в память ли как по-умному сделано в некоторых прошивальщиках биоса, там дуал-биос-то есть основной и резервный и небольшими блоками перезаписываются по очереди причём со считываем записанного и сверкой после каждого блока. Такой прошивке не страшно даже экстренная потеря питания. Это как делать, если по умном, в своих устройствах. совет разработчикам-делайте стенд тестирования электронных плат своих устройств, минимум пару суток с повышенной температурой и влажностью, минимум 300-400 циклов проверки всех микросхем оперативной и постоянной памяти. разрабатывайте тесты мемтест для проверки, лучше встроенные с запуском комбинацией кнопок. иные проблемы из опыта: Дешевый некачественный текстолит тонкий, плохой припой BGA , неотмытый активный флюс, непропай под шарами в следствии несоблюдение температуры или некачественного флюса, завышенные напряжения питания-всё это приводит к глюкам и быстрой деградации... просчёты по охлаждению чувствительных к малейшему перегреву компонентов, BGA с краю платы где она изгибается... как Vik On неоднократно показывал в современных видеокартах. наверное книгу можно написать про косяки как не надо разрабатывать...

Спасибо огромнейшее. Очень полезная практическая информация. Подача материала на высшем уровне.

Спасибо, вот это да! Классно, что вы сохранили интерес к такой деятельности, а не послали всё по бороде. Кста, была раньше память FRAM от Ramtron, вроде бесконечная и лучшая была (20 лет назад).

Не верный подход к определению ресурса. Надежность зависит не только от количества циклов записи, но и от способности длительное время в статике хранить заряд и не допускать при этом ошибок. Количество циклов записи не связано пропорционально с вероятностью преждевременного стекания заряда. И это проблема не только Eeprom.

Отличное видео, спасибо автору за его труды! У меня остался только один вопрос: влияет ли в итоге операция чтения на ресурс EEPROM или только запись?

Ура вернулся!

Отлично организованное исследование с грамотно интерпретированными результатами! Респект! А проанализировать взаимосвязь между временем записи и живучестью микросхемы можно было посчитав коэффициент корреляции и отобразив точки на графике (вправо - время записи, вверх - живучесть).

Спасибо, актуально.

Фундаментальное исследование! Жму руку! 🤝 Столько времени потратить на такой тест! Жирнющий лайк!

фундаментальный вклад в анализ надёжности схем памяти 👍

Жалко что ты не взял один экземпляр fram для "внештатного" сравнения. Вещь просто шикарная. Рад видеть очередной ролик.

Очень интересно!

Здравствуйте. Очень нравится формат ресурсных испытаний. Ну и типа добить те "заветные 10 слов".

Мощную работу проделал. Вроде и знаешь что ресурс памяти ограничен количество записи, но теперь буду аккуратнее

Я хоть и очень далёк от электроники, но мне очень интересно было посмотреть этот тест. Очень порадовал дотошный подход к тесту, а не просто количество записей в память пока оно не сгорит нафиг

Самая большая проблема таких тестов, то что они НЕ тестируют ресурс. EEPROM содержит изолированный затвор в котором "запираются" электроны в момент записи. Проблема с износом в том, что при каждом стирании эта структура деградирует что приводит к повышенной утечке электронов. И в таком тесте всё будет чики поки - мы записали, тут же считали и всё хорошо, но хороши только потому, что у электронов не было времени "убежать" и только уже при очень сильном износе начинается то, что плавающий затвор не может совсем держать заряд. Если записать и оставить на день/неделю/месяц/год, то ошибки появятся и при меньшем количестве циклов записи, именно поэтому цифры в даташите и результат такого теста сильно отличается. P.S. А теперь такой же тест с FRAM(MB85RC256V) пожалуйста! 😁

Все коротко, ясно и без воды

Крутой контент! Топчик! Все ёмко и конкретно.

Ураааа! Новое видео, канал существует)))

Спасибо, нужная информация. Подскажите пож. какой телефон в ролике?

Спасибо. Может пригодится.

Спасибо что ты есть)

Обзор, как всегда, на высоте. А какой анализатор уровней использовался ?

Есть еще Ferroelectric RAM - тоже самое но только работает как флеш. Заявленный ресурс просто огромный. Можно найти полностью совместимую i2c, например FM24CL16B. Было бы интересно посмотреть на тесты такой памяти!

Вот это размах тестирования! Моё почтение.

Руслан, твои тесты очень крутые. Красава 👍👍👍

Ура! Ещё есть люди, которые продолжают записывать хорошие и полезные видосы.

Ещё бы иметь анолизатор оставшегося ресурса EEPROM. Чтобы иметь возможность при ремонте узнать или предупредить износ памяти. Спасибо, очень познавательное видео.

Для экономии ресурса, в функцию запись/чтение, добавляют функцию проверки и сравнения значения перед записью (частенько выясняется, что и перезаписывать нет смысла, но это конечно редко в применение т.к. довольно специфично...

Тоже закупаюсь LCSC

Колоссальная, грамотно проделанная работа! Спасибо!

Спасибо очень познавательно, а с флешь будет тест

Спасибо за проделанную работу. На практике сталкивался с износом памяти, дает интересные эффекты.

Отличный качественный тест! Давно было интересно, сколько они на самом деле выдерживают циклов записи. Если в устройстве требуется часто писать в EERPOM, можно размазать запись на всю микросхему, организовав что-то вроде кольцевого буфера. Тогда эти миллионы записей можно умножить на количество страниц в микросхеме.

Пожалуй, самый интересный канал об электронике. Автору уважение, за то, что затрагивает такие непопулярные, но очень интересные темы.

Руслан ты красавчик, ас и профи своего дела слушая тебя даже забываешь моргать,

Спасибо, очень интересное исследование. Лет 5 назад делал настольную лампу с регулировкой яркости и памятью последней яркости. Тоже голову ломал, как не затереть встроенную память контроллера до дыр. В итоге, делаю паузу секунд в 5 перед тем как записать знаяение. То есть жду, пока пользователь перестаёт крутить яркость. Была ещё мысль придумать как то равномерный износ, но решил, что оно того не стоит))

Вы затронули тему снижения ресурса при повышении температуры. Жаль, что не провели тест хотя бы одного чипа от каждого производителя. Было бы интересно сравнить

Прекрасный эксперимент, как и всегда. Было бы очень интересно увидеть сами чипы растворенных в кислоте микросхем от STM и HANSCHIP. Есть подозрение, что китайцы перепаковали/перемаркировали Б/У микросхемы ST, уж слишком похож ресурс и время записи.

Классное исследование, неплохо было бы выпустить вторую часть с исследованием ресурса микросхем при повышенной температуре

Не выдержан режим тестирования. По сути затвор был 24/7 в состоянии работы и там протекали процессы диффузии и электромиграции, как бы вел себя завтвор при другом режиме работы. Формально у нас был линейный работы. Есть же отличие. Вообще не понял о чём тест, как показометр да. Кажется мне что плохое питание более актуальная проблема.

Проделана огромная работа.

полезный контент спс

Как всегда круто, спасибо

Если я правильно понял, то тестировалась только первая страница памяти. Но вероятность безотказной работы всей микросхемы будет равна произведению вероятностей одной страницы на количество страниц. Понятно, что значение не должно сильно разниться, предполагая одинаковое качество материала, но всё же тест неточный.

Доброго времени суток! Руслан, спасибо Вам за познавательной контент. Не могли бы разобрать тему OpenWRT? В одном из видео Вы говорили что прошили свой роутер Asus. Заранее благодарю!

не просто как всегда красавчик

Спасибо! Сейчас часто в ТВ стали умирать чипы памяти, теперь знаю от чего

как методика -- классно 👍 и интересно 👍, но, увы, конкретные результаты малоприменимы, потому что для какого-то более-менее достоверного прогноза по надёжности придётся тестировать некотороую выборку из каждой партии (для по-настоящему ответственных устройств делается именно и только так, невзирая на имена и результаты прошлых тестов);

Замечательная работа, но мне кажется выявленный запас ресурса связан с тем что запись велась только на одну страницу. Интересно было бы хотя бы для одного производителя оставшиеся неиспользованные микрухи разрушить полной перезаписью, что бы это подтвердить или опровергнуть. Стоит выбрать производителя с низким ресурсом но и низким разбросом, что бы корреляционная ценность была высокая но при этом не пришлось еще 2 месяца тратить:)

Наткнулся на комментарии про влияние качества питания. И вот что подумал, ведь запись происходит путём стирания страницы и записи новой, и для этого нужно воздействие продолжительное на изолированную ячейку полем. И есть подозрение что время воздействия будет зависеть от входящего питания. Т.е. по идее при более низком напряжении питания время записи должно увеличиваться. Если это так то при нестабильном питании контроллер еепромки может просто некорректно выставлять длительность. Тем самым сильнее повреждать ячейки при записи если длительность больше чем надо, либо если длительность меньше чем надо нечётко записывать информацию.

Очень познавательное видео. Но, возможно, не бит становится сбойным - он просто отдаёт данные очень медленно и не вписывается в логику работы чипа, выходит за пределы временной диаграммы. По аналогии, у HDD хороший и сбойный сектор отличается очень большим разбросом по времени доступа (но в специальном режиме сбойные сектора можно прочитать). Не ясно наличие кодов коррекции в чипа и их уровень.

Большую работу проделал, молодец.

Новый видос 😳

По поводу зависимости ресурса от быстродействия: нужно было раскидать точки на плоскости скорость VS ресурс. И там была бы видна корреляция.

Давно задавался этим вопросом но в интернете нет информации

Помню, лет 10 назад у знакомых сдохли аналитические весы OHAUS (загрузка заканчивалась ошибкой номер ...). На форумах писали, что причина - выход из строя микросхемы с прошивкой.

Мне нравится идея Флиппера. Хочу такой корпус, поставить туда ESP32, и самому писать прошивки.

Хотелось бы коротенько услышать про методы обхода ресурса епром - например надо сделать надёжное устройство, а других микросхем кроме малоресурсных нет...

Хорошо что ожил. Мы, всё понимаем, спасибо! (кроватка, это нужно будущему)

О как мне бы не помешал этот тест лет 20 назад.